原子氧对硅胶O型圈有影响吗?

 新闻资讯     |      2019-12-19 14:43
硅胶O型圈密封性构造简易、密封性靠谱,因此被普遍采用。在飞机场和航天器中,也常常选用这类密封性构造,液压机O型圈的硅硅胶,因为硅硅胶是高分子材料高聚物,室内空间的各种各样自然环境标准非常是原子氧对其密封性特性的危害不容忽视[ 3, 4]。低宇宙路轨( LEO)的室内环境关键由N2、 O2、 Ar、 He、 H 和原子氧AO(Atomic Oxygen) 构成,在其中原子氧的含水量最大约占 80%, 做为LEO 自然环境中含水量数最多的物体,原子氧是氧原子在光波长低于243 nm 的太阳光紫外光的光致溶解作用下而产生的[ 5]。原子氧不但具备较强的还原性,并且当四轴飞行器以路轨速率在LEO 中运作时,原子氧以7~ 8km/ s 的法向加速度碰撞原材料表面,其碰撞原材料的均值机械能达到 4~ 5eV,进而造成原材料特性的转变导致密封性实际效果产生变化,因此针对规定泄漏率不大的长期性密封性,务必科学研究原子氧对其密封性特性危害的规律性。
硅胶O型圈在历经一定時间的原子氧作用后其品质减少,原子氧曝露時间越长O 型圈的品质转变越大,并且O 型圈的曝露总面积越大,其品质转变量越大.
硅胶O型圈的硅硅胶 863-3-1和硅硅胶863-3-3 原材料, 在试验中O 型圈的压缩系数为40%, 溫度为常温下.硅胶O型圈在历经原子氧作用以后泄漏率比原子氧作用前显著扩大, 而且原子氧作用時间越长泄漏率越大, 其增减约为 9. 4% ~44. 6% .由此可见,原子氧效应对硅胶O型圈的泄漏率危害较为大,并且原子氧和紫外光的综合性作用对泄漏率的危害比原子氧独立作用的危害更大。
原子氧效应对硅胶O型圈特性的危害,原子氧作用以前的表面十分光洁, 基本上沒有表面损害;在小通量曝露试验后表面拥有一些转变, 有小量的地区出現一些斑点状的凹痕,将会是原子氧对硅硅胶的作用結果。.在历经很大通量的原子氧作用后,表面晶相转变很大,由光洁越来越高矮波动呈丘壑状, 表明原子氧作用的時间对硅硅胶原材料的O 型圈的表面晶相有很大的危害。特别是在原子氧和紫外线辐射源综合性作用后,O 型圈表面不仅呈丘壑状, 并且有较多的一部分表面出現细微的凹痕, 因而,紫外光辐射源和原子氧的综合性作用对O 型圈的危害更为明显。
原子氧对O型圈表面有挺大的溶蚀效用; O 型圈历经原子氧曝露后, 品质降低、 泄漏率显著扩大;曝露時间越长,表面晶相遭受的毁坏越比较严重、品质降低量越大,泄漏率也就会越大。 原子氧和紫外光的综合性作用对O 型圈泄漏率危害更为显著。